Zuverlässigkeit von GaN-Schaltern bei hohen Spannungen

MTBF, PPM, FIT & Co.
Die Zuverlässigkeit von GaN-Leistungsschaltern erreicht und überschreitet bei Verwendung der richtigen Technologie die konventioneller Silizium-Halbleiter. In diesem Whitepaper werden mögliche Ausfallursachen analysiert und die Ausfallraten bei verschiedenen Temperaturen und Schaltspannungen berechnet und mit der Praxis verglichen.
Bitte füllen Sie das untenstehende Formular aus, um den Download zu erhalten.
Kontakt
+49 89 614 503 0
info@hy-line.de