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Whitepaper: Zuverlässigkeit von GaN-Schaltern bei hohen Spannungen
MTBF, PPM, FIT & Co.
Die Zuverlässigkeit von GaN-Leistungsschaltern erreicht und überschreitet bei Verwendung der richtigen Technologie die konventioneller Silizium-Halbleiter.
In diesem Whitepaper werden mögliche Ausfallursachen analysiert und die Ausfallraten bei verschiedenen Temperaturen und Schaltspannungen berechnet und mit der Praxis verglichen.
Hinweis: Dieses Whitepaper ist in englischer Sprache.
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